晶圓厚度量測儀 / 晶圓測厚儀

晶圓厚度量測儀產品包含 profoma 300i 及 profoma 300iSA二個系列。電氣設備最重要的元件之一是半導體晶片,它有助於調節整個系統的電流。處理這些元件時,一個關鍵考慮因素歸結為晶圓厚度測量。當您使用 MTI Instruments 的一系列晶圓測量工具時,如晶圓厚度量測儀 / 晶圓測厚儀 / 晶圓厚度量測系統,可確保這些符合行業標準變得更加容易。

準確的晶圓測量有助於確保您的設備盡可能高效地導電。不同的行業對其半導體晶片都有理想的要求,我們可以讓您的器件獲得理想的厚度。無論您是在尋找用於半導體計量系統、半自動計量系統還是太陽能計量系統的測試設備,我們都能為您的工程師提供完成工作所需的晶圓測量工具。

MTI profoma 300i 晶圓厚度量測儀

Proforma 300i 晶圓測厚儀是一種基於電容的差分量測系統,桌上型十分輕巧,可對半導體晶圓進行非接觸式的厚度量測。

MTI Proforma300iSA 晶圓測厚儀

Proforma 300iSA 是一款桌上型的半自動晶圓厚度測量系統,,可對厚度、厚度變化、翹曲、翹曲、sori、部位和整體平整度進行完整的晶圓表面掃描。

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